Verordnung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (231.21)
CH - Schweizer Bundesrecht

Verordnung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)

(Topographienverordnung, ToV) vom 26. April 1993 (Stand am 1. Januar 2022)
Der Schweizerische Bundesrat,
gestützt auf die Artikel 2 Absatz 2, 12 und 18 des Topographiengesetzes vom 9. Oktober 1992¹ (ToG) und auf Artikel 13 des Bundesgesetzes vom 24. März 1995² über Statut und Aufga­ben des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum (IGEG),³
verordnet:
¹ SR 231.2 ² SR 172.010.31 ³ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 ( AS 1995 5156 ).

1. Abschnitt: Allgemeine Bestimmungen

Art. 1 Zuständigkeit
¹ Der Vollzug der Verwaltungsaufgaben, die sich aus dem ToG ergeben, und der Vollzug dieser Verordnung sind Sache des Instituts für Geistiges Eigentum (IGE)⁴.⁵
² Ausgenommen sind der Artikel 12 ToG sowie die Artikel 16–19 dieser Verord­nung, deren Vollzug dem Bundesamt für Zoll und Grenzsicherzeit (BAZG) ⁶ obliegt.
⁴ Die Bezeichnung der Verwaltungseinheit wurde in Anwendung von Art. 16 Abs. 3 der Publikationsverordnung vom 17. Nov. 2004 ( AS 2004 4937 ) angepasst. Die Anpassung wurde im ganzen Text vorgenommen.
⁵ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 ( AS 1995 5156 ).
⁶ Die Bezeichnung der Verwaltungseinheit wurde in Anwendung von Art. 20 Abs. 2 der Publikationsverordnung vom 7. Okt. 2015 ( SR 170.512.1 ) auf den 1. Jan. 2022 angepasst ( AS 2021 589 ). Die Anpassung wurde im ganzen Text vorgenommen.
Art. 2 Sprache
¹ Eingaben an das IGE müssen in einer schweizerischen Amtssprache abge­fasst sein.
² Von Beweisurkunden, die nicht in einer Amtssprache abgefasst sind, kann das IGE unter Ansetzung einer Frist eine Übersetzung sowie eine Bescheinigung ihrer Richtigkeit verlangen; werden die verlangten Unterlagen nicht beigebracht, gelten die Beweisurkunden als nicht eingereicht.
Art. 2 a ⁷ Unterschrift
¹ Eingaben müssen unterzeichnet sein.
² Fehlt auf einer Eingabe die rechtsgültige Unterschrift, so wird das ursprüngliche Einreichungsdatum anerkannt, wenn eine inhaltlich identische und unterzeichnete Eingabe innerhalb eines Monats nach Aufforderung durch das IGE nachgereicht wird.
³ Die Anmeldung zum Registereintrag muss nicht unterzeichnet sein. Das IGE kann weitere Dokumente bestimmen, für welche die Unterschrift nicht nötig ist.
⁷ Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004, in Kraft seit 1. Jan. 2005 ( AS 2004 5037 ).
Art. 2 b ⁸ Elektronische Kommunikation
¹ Das IGE kann die elektronische Kommunikation zulassen.
² Es legt die technischen Einzelheiten fest und veröffentlicht sie in geeigneter Weise.
⁸ Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004, in Kraft seit 1. Jan. 2005 ( AS 2004 5037 ).
Art. 3 ⁹ Gebühren
Die Gebühren, die nach dem ToG oder nach dieser Verordnung erhoben werden, richten sich nach der Verordnung des IGE vom 14. Juni 2016¹⁰ über Gebühren.
⁹ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 2. Dez. 2016, in Kraft seit 1. Jan. 2017 ( AS 2016 4827 ).
¹⁰ SR 232.148

2. Abschnitt: Anmeldeverfahren

Art. 4 ¹¹ Mehrere Anmelder und Anmelderinnen
¹ Melden mehrere Personen eine Topographie an, so haben sie entweder eine von ihnen zu bezeichnen, der das IGE alle Mitteilungen mit Wirkung für alle zustellen kann, oder eine gemeinsame Vertreterin zu bestellen.
² Solange weder das eine noch das andere geschehen ist, wählt das IGE eine Person als Zustellungsempfänger im Sinne von Absatz 1. Widerspricht eine der anderen Personen, so fordert das IGE alle Beteiligen auf, nach Absatz 1 zu handeln.
¹¹ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 2. Dez. 2016, in Kraft seit 1. Jan. 2017 ( AS 2016 4827 ).
Art. 5 Unterlagen zur Identifizierung
¹ Folgende Unterlagen sind zur Identifizierung und Veranschaulichung der Topo­gra­phie zugelassen:
a. Zeichnungen oder Fotografien von Darstellungen (Layouts) zur Herstellung des Halbleitererzeugnisses;
b. Zeichnungen oder Fotografien von Masken oder Maskenteilen zur Herstel­lung des Halbleitererzeugnisses;
c. Zeichnungen oder Fotografien von einzelnen Schichten des Halbleiter­erzeug­nisses.
² Zusätzlich können Datenträger, auf denen in digitalisierter Form Darstellungen ein­zelner Schichten von Topographien festgehalten sind, oder Computer-Ausdrucke davon sowie die Halbleitererzeugnisse selbst hinterlegt werden.
³ Die Unterlagen sind im Format DIN A4 (21×29,7 cm) oder auf dieses Format gefaltet einzureichen. Grossflächige Zeichnungen, Pläne oder Fotografien, die nicht gefaltet werden können, müssen in Zeichenrollen eingereicht werden, die höchstens 1,5 m lang und 15 cm dick sein dürfen.
⁴ Soweit das IGE die Unterlagen zur Identifizierung elektronisch entgegennimmt (Art. 2 b ), kann es von diesem Artikel abweichende Anforderungen festlegen; es veröffentlicht diese in geeigneter Weise.¹²
¹² Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004, in Kraft seit 1. Jan. 2005 ( AS 2004 5037 ).
Art. 6 Unvollständige Anmeldung
¹ Bei unvollständiger oder mangelhafter Anmeldung räumt das IGE dem Anmel­der oder der Anmelderin eine Frist zur Vervollständigung der Anmeldung ein.
² Ist der Mangel nach Ablauf der Frist nicht behoben, tritt es auf die Anmeldung nicht ein. Es kann ausnahmsweise weitere Fristen ansetzen.¹³
¹³ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 2. Dez. 2016, in Kraft seit 1. Jan. 2017 ( AS 2016 4827 ).

3. Abschnitt: Das Topographienregister

Art. 7 Registerinhalt
Das IGE trägt die folgenden Angaben in das Register ein:
a. die Eintragungsnummer;
b. das Anmeldedatum;
c. der Name oder die Firma sowie die Adresse der anmeldenden Person oder de­ren Rechtsnachfolgerin;
d. der Name und die Adresse des Herstellers oder der Herstellerin;
e. die Bezeichnung der Topographie;
f. das Datum und der Ort einer allfälligen ersten geschäftlichen Verbreitung der Topographie;
g.¹⁴
das Datum der Veröffentlichung;
h. Änderungen des gewöhnlichen Aufenthaltes oder der geschäftlichen Nieder­las­sung der an der Topographie Berechtigten;
hbis.¹⁵
Änderungen im Recht an der Topographie;
i.¹⁶
eingeräumte Rechte sowie Verfügungsbeschränkungen von Gerichten und Zwangsvollstreckungsbehörden;
k. das Datum der Löschung.
¹⁴ Fassung gemäss Anhang Ziff. 1 der Designverordnung vom 8. März 2002, in Kraft seit 1. Juli 2002 ( AS 2002 1122 ).
¹⁵ Eingefügt durch Ziff. I der V vom 2. Dez. 2016, in Kraft seit 1. Jan. 2017 ( AS 2016 4827 ).
¹⁶ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 2. Dez. 2016, in Kraft seit 1. Jan. 2017 ( AS 2016 4827 ).
Art. 8 Aktenheft
Das IGE führt für jede Topographie ein Aktenheft.
Art. 9 Fabrikations- oder Geschäftsgeheimnis
¹ Zu den Akten gegebene Beweisurkunden, die ein Fabrikations- oder Geschäfts­geheimnis offenbaren, werden auf Antrag ausgesondert.
² Unterlagen, die nach Artikel 5 zur Identifizierung dienen, dürfen nicht in ihrer Gesamtheit ausgesondert werden.
³ Auf ausgesonderte Urkunden wird im Aktenheft hingewiesen.
⁴ Über die Einsicht in ausgesonderte Urkunden entscheidet das IGE nach An­hö­rung der an der Topographie Berechtigten, die im Register eingetragen sind.
Art. 10 ¹⁷ Bestätigung
Das IGE bestätigt dem Anmelder oder der Anmelderin die Eintragung.
¹⁷ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 2. Dez. 2016, in Kraft seit 1. Jan. 2017 ( AS 2016 4827 ).
Art. 11 ¹⁸ Veröffentlichung
¹ Das IGE veröffentlicht die im Register eingetragenen Angaben.
² Es bestimmt das Publikationsorgan.
³ Auf Antrag und gegen Kostenersatz erstellt es Papierkopien von ausschliesslich elektronisch veröffentlichten Daten.¹⁹
⁴ ...²⁰
¹⁸ Fassung gemäss Anhang Ziff. 1 der Designverordnung vom 8. März 2002, in Kraft seit 1. Juli 2002 ( AS 2002 1122 ).
¹⁹ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004, in Kraft seit 1. Jan. 2005 ( AS 2004 5037 ).
²⁰ Aufgehoben durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004, mit Wirkung seit 1. Jan. 2005 ( AS 2004 5037 ).
Art. 12 ²¹ Änderung und Löschung von Einträgen
¹ Das IGE trägt aufgrund einer entsprechenden Erklärung der an der Topographie Berechtigten oder einer anderen genügenden Urkunde ein:
a. die Einräumung von Rechten an der Topographie;
b. Verfügungsbeschränkungen von Gerichten und Zwangsvollstreckungsbehörden;
c. Änderungen, die eingetragene Angaben betreffen.
² Die Löschung der Eintragung einer Topographie ist gebührenfrei.
²¹ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 2. Dez. 2016, in Kraft seit 1. Jan. 2017 ( AS 2016 4827 ).
Art. 13 Berichtigung
¹ Fehlerhafte Eintragungen werden auf Antrag der an der Topographie Berechtigten unverzüglich berichtigt.
² Beruht der Fehler auf einem Versehen des IGE, so erfolgt die Berichti­gung von Amtes wegen.
Art. 14 ²² Registerauszüge
Das IGE erstellt Auszüge aus dem Register.
²² Fassung gemäss Ziff. I der V vom 2. Dez. 2016, in Kraft seit 1. Jan. 2017 ( AS 2016 4827 ).
Art. 15 Aufbewahrung und Rückgabe
¹ Das IGE bewahrt die Akten sowie die hinterlegten Datenträger und Halblei­ter­­erzeugnisse nach der gültigen Anmeldung während 20 Jahren auf.
² Werden die Datenträger und Halbleitererzeugnisse nach Ablauf der Aufbewah­rungsfrist nicht zurückverlangt, kann sie das IGE auch ohne Antrag zurück­schicken. Kann die Adresse der Berechtigten nicht ausfindig gemacht werden, so werden die hinterlegten Gegenstände zusammen mit den Akten vernichtet.

4. Abschnitt: Hilfeleistung des BAZG

Art. 16 ²³ Bereich
Die Hilfeleistung des BAZG erstreckt sich auf das Verbringen von Halb­leitererzeugnissen, bei denen der Verdacht besteht, dass ihre Verbreitung gegen die in der Schweiz geltende Gesetzgebung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen verstösst, ins oder aus dem Zollgebiet.
²³ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 ( AS 2008 2543 ).
Art. 17 Antrag auf Hilfeleistung
¹ Die Hersteller und Herstellerinnen oder die klageberechtigten Lizenznehmer und Lizenznehmerinnen (Antragsteller und Antragstellerinnen) müssen den Antrag auf Hilfeleistung beim BAZG stellen.²⁴
¹bis Das BAZG entscheidet spätestens 40 Tage nach Erhalt der vollständigen Unterlagen über den Antrag.²⁵
² Der Antrag gilt während zwei Jahren, wenn er nicht für eine kürzere Geltungsdauer gestellt wird. Er kann erneuert werden.
²⁴ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 ( AS 2008 2543 ).
²⁵ Eingefügt durch Ziff. I 2 der V vom 6. Juni 2014 über die Ordnungsfristen im Zuständigkeitsbereich der Eidgenössischen Zollverwaltung, in Kraft seit 1. Sept. 2014 ( AS 2014 2051 ).
Art. 18 ²⁶ Zurückbehalten von Halbleitererzeugnissen
¹ Behält die Zollstelle Halbleitererzeugnisse zurück, so verwahrt sie sie gegen Gebühr selbst oder gibt sie auf Kosten des Antragstellers oder der Antragstellerin einer Drittperson in Verwahrung.
² Sie teilt dem Antragsteller oder der Antragstellerin Name und Adresse der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers, eine genaue Beschreibung, die Menge sowie den Absender im In- oder Ausland der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse mit.
³ Steht schon vor Ablauf der Frist nach Artikel 77 Absatz 2 beziehungsweise 2bis des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 1992²⁷ fest, dass der Antragsteller oder die Antragstellerin keine vorsorgliche Massnahme erwirken kann, so gibt die Zollstelle die Halbleitererzeugnisse unverzüglich frei.
²⁶ Fassung gemäss Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 ( AS 2008 2543 ).
²⁷ SR 231.1
Art. 18 a ²⁸ Proben oder Muster
¹ Der Antragsteller oder die Antragstellerin kann die Übergabe oder Zusendung von Proben oder Mustern zur Prüfung oder die Besichtigung der Halbleitererzeugnisse beantragen. Anstelle von Proben oder Mustern kann das BAZG dem Antragsteller oder der Antragstellerin auch Fotografien der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse übergeben, wenn diese eine Prüfung durch den Antragsteller oder die Antragstellerin ermöglichen.
² Der Antrag kann zusammen mit dem Antrag auf Hilfeleistung beim BAZG oder während des Zurückbehaltens der Halbleitererzeugnisse direkt bei der Zollstelle gestellt werden, welche die Halbleitererzeugnisse zurückbehält.
²⁸ Eingefügt durch Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 ( AS 2008 2543 ).
Art. 18 b ²⁹ Wahrung von Fabrikations- und Geschäftsgeheimnissen
¹ Das BAZG weist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer der Halbleitererzeugnisse auf die Möglichkeit hin, einen begründeten Antrag auf Verweigerung der Entnahme von Proben oder Mustern zu stellen. Es setzt ihr oder ihm für die Stellung des Antrags eine angemessene Frist.
² Gestattet das BAZG dem Antragsteller oder der Antragstellerin die Besichtigung der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse, so nimmt es bei der Festlegung des Zeitpunkts auf die Interessen des Antragstellers oder der Antragstellerin und der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers angemessen Rücksicht.
²⁹ Eingefügt durch Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 ( AS 2008 2543 ).
Art. 18 c ³⁰ Aufbewahrung von Beweismitteln bei Vernichtung der Halbleitererzeugnisse
¹ Das BAZG bewahrt die entnommenen Proben oder Muster während eines Jahres ab der Benachrichtigung der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers nach Artikel 77 Absatz 1 des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 1992³¹ auf. Nach Ablauf dieser Frist fordert es die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer auf, die Proben oder Muster in ihren beziehungsweise seinen Besitz zu nehmen oder die Kosten der weiteren Aufbewahrung zu tragen. Ist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise der Anmelder, Besitzer oder Eigentümer dazu nicht bereit oder lässt sie beziehungs­weise er sich innerhalb von 30 Tagen nicht vernehmen, so vernichtet das BAZG die Proben oder Muster.
² Das BAZG kann anstelle der Entnahme von Proben oder Mustern Fotografien der vernichteten Halbleitererzeugnisse erstellen, soweit damit der Zweck der Sicherung von Beweismitteln gewährleistet ist.
³⁰ Eingefügt durch Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 ( AS 2008 2543 ).
³¹ SR 231.1
Art. 19 ³² Gebühren
Die Gebühren für die Hilfeleistung des BAZG richten sich nach der Verordnung vom 4. April 2007³³ über die Gebühren des Bundesamts für Zoll und Grenzsicherzeit .
³² Fassung gemäss Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 ( AS 2008 2543 ).
³³ SR 631.035

5. Abschnitt: Inkrafttreten

Art. 20
Diese Verordnung tritt am 1. Juli 1993 in Kraft.
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